扫描电镜如何获得样品的三维形貌？

扫描电镜（SEM）能够通过多种技术获取样品的三维（3D）形貌。虽然传统的SEM图像通常提供的是样品表面的二维投影，但通过一些先进的技术和方法，可以推导出样品的三维结构。

扫描电镜中如何避免或解决样品的电荷积累问题？

在扫描电镜（SEM）中，样品的电荷积累（也称为静电积累）是一个常见的问题，特别是当样品是非导电性或导电性差时。

在扫描电镜（SEM）图像中，灰度值的选择对于数据分析的结果有显著影响，尤其是在图像定量分析、表面特征提取、形态学分析和物质成分识别等方面。

在扫描电镜（SEM）中，束流电压和束流电流是影响图像质量、分辨率和成像深度的关键参数。

样品杆的材质选择对实验结果有重要影响，特别是在扫描电镜（SEM）、透射电镜（TEM）等仪器中进行高精度分析时。

在扫描电子显微镜（SEM）中，长时间扫描是一种有效减少图像伪影（artifacts）的方法。

扫描电子显微镜（SEM）是分析样品断裂面的强大工具，通过其高分辨率的成像能力，结合多种分析技术，能够详细研究断裂机制、材料的微观结构以及断裂模式。

多电压成像（multi-voltage imaging）是扫描电子显微镜（SEM）中一种技术，通过在不同的加速电压下对同一位置进行成像，来获得更多的样品信息。